Сафронов, РИ
Nauka innov. 2011, 7(3):36-38
https://doi.org/10.15407/scin7.03.036
Рубрика: Научно-технические инновационные проекты Национальной академии наук Украины
Язык: Украинский
Аннотация: 

Исследована возможность измерения стехиометрии сапфира по рассеянию рентгеновских лучей. Измерения проводились на рентгенофлуоресцентном спектрометре в рентгенооптической схеме с вторичным источником излучения. Показано существование однозначной связи между величиной Ik/Ir и стехиометрией сапфира. Предложена формула для определения количества катионных вакансий в сапфире.

Ключевые слова: неразрушающие методы контроля, рассеяние рентгеновских лучей, стехиометрия состава кристаллов
Ссылки: 

1. Добровинская Е.Р., Литвинов Л.А., Пищик В.В. Энциклопедия сапфира. — Харьков: Институт монокристаллов, 2004 г.
2. Анисович К.В. Перспективы повышения чувствительности флуоресцентного рентгеновского анализа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. – 1980 . – Вып. № 24. – С. 61-70.
3. Mikhailov I.F., Sobol O.V., Varganov V.V., Fomina L.P. Determination of mass fraction of light elements in crystalline materials by the Compton-to-Rayleigh scattering in tensity ratio // Functional Materials. – 2002. – V. 9, № 4. – P. 651-657.
4. Vishnevsky S.D., Krivonosov E.V., Litvinov L.A. Formation and diffusion of anionic vacancies in leucosapphire // Functional Materials. – 2003. – V. 10, № 2. – P. 238-242.