1Крамченков, АБ, 2Сторижко, ВЕ, 2Дрозденко, АА, 1Денисенко, ВЛ, 3Карстаньен, ХД
1Інститут прикладної фізики НАН України, Суми
2Институт прикладной физики НАН Украины, Сумы
3Институт исследований металлов общества Макса Планка, Германия
Nauka innov. 2010, 6(5):32-37
https://doi.org/10.15407/scin6.05.032
Рубрика: Научные основы инновационной деятельности
Язык: Русский
Аннотация: 
Описан новый канал ядер отдачи в составе микроаналитического ускорительного комплекса, разработанного в Институте прикладной физики НАН Украины. Канал предназначен для количественного неразрушающего определения концентрации водорода в материалах при помощи метода ядер отдачи. Высокое разрешение по энергии и, следовательно, по глубине обеспечивается применением прецизионного электростатического спектрометра в сочетании с позиционно-чувствительным детектором. Энергетическое разрешение ΔE/E прибора составляет 3×10-4. Предел обнаружения водорода составляет около 10 ppm.
Ключевые слова: высокое разрешение, метод ядер отдачи, микроаналитический ускорительный комплекс, профиль концентрации водорода, электростатический спектрометр
Ссылки: 
1. Сторижко В.Е. Методы ядерного микроанализа, Материалы II Всесоюзной конференции «Микроанализ на ионных пучках», 11-13 октября 1988 г., г. Харьков. — Сумы: «Редакционно-издательский отдел облуправления по печати», 1991. — С. 3-53.
2. Bubert H., Janet H. Surface and Thin Film Analysis: Principles, Instrumentation, Applications. Willey-VCH Verlag, 2002. — P. 164.
3. Сторижко В.Е., Дрозденко А.А., Мирошниченко В.И., Пономарев А.Г. Микроаналитический ускорительный комплекс ИПФ НАН Украины // Труды XVІ международной конференции по электростатическим ускорителям и пучковым технологиям, 6-8 июня 2006 г. — Обнинск: ГНЦ РФ ФЭИ, 2007 г. — С. 88-97.
4. Storizhko V.E., Ponomarev A.G., Rebrov V.A. et all. The Sumy scanning nuclear microprobe: Design features and first tests // Nucl. Instr. and Meth. B 260 (2007). — P. 101-104.
5. Дрозденко А.А., Денисенко В.Л., Дудник А.Б. и др. Аппаратура для исследования наноструктур методом резерфордовского обратного рассеяния // Тезисы докладов международного совещания «Микро и нанотехнологии с использованием пучков ионов, ускоренных до малых и средних энергий», Обнинск, 2007 г. — С. 67.
6. Enders T., Rilli M., Carstanjen H.D. A high-resolution electrostatic spectrometer for the investigation of near-surface layers in solids by high-resolution Ruther ford backscattering with MeV ions. — Nucl. Instr. and Meth. — B 64 (1992). — P. 817.
7. Carstanjen H.D. Ion beam analysis with monolayer depth resolution. — Nucl. Instr. and Meth. B. 136-138 (1998), 1183-1190.