1Жарков, ИП, 1Иващенко, АН, 2Сафронов, ВВ
1Институт физики НАН Украины, Киев
2Інститут фізики НАН України, Київ
Nauka innov. 2010, 6(3):47-52
https://doi.org/10.15407/scin6.03.047
Рубрика: Научно-технические инновационные проекты Национальной академии наук Украины
Язык: Русский
Аннотация: 
Разработана современная недорогая информационно-измерительная система (ИИС) для обеспечения автоматизации экспериментов туннельной спектроскопии. Реализация только токовой развертки позволила существенно упростить аппаратную часть ИИС, обеспечить полную автоматизацию процедуры измерения ВАХ. Описаны аппаратные особенности разработанной ИИС, а также возможности созданного программного обеспечения.
Ключевые слова: динамическая проводимость, токовая развертка, туннельная спектроскопия
Ссылки: 
1. Adler J.G., Jackson J.E. System for Observing Small Nonlinearities in Tunnel Junctions // The Review of Scientific Instruments. — 1966. — V. 37, N 8. – P. 1050-1054.
2. Adler J.G., Chen T.T., Straus J. High Resolution Electron Tunneling Spectroscopy // The Review of Scientific Instruments. — 1971. — V. 42, N 3. – P. 362-368.
3. Дижур Е.М., Федоров А.В. Туннельная спектроскопия на постоянном токе и цифровой метод анализа экспериментальных данных // Приборы и техника эксперимента. — 2005. — № 4. — С. 38-42.
4. Keithley. Приборы для измерения и тестирования. Каталог продукции 2008. — 60 с. URL: http://www.keithley.nnz-ipc.ru
5. HP 4155B/4156B Semiconductor Parameter Analyzer. URL: http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5968-6681E.pdf
6. ADA-1406 Модуль ввода-вывода аналоговых и дискретных сигналов. Руководство пользователя. ООО «ХОЛИТ Дэйта Системс». Киев. — 17 с.
7. URL: http://www.holit.ua
8. Де Бор К. Практическое руководство по сплайнам: Пер.с англ. — М.: Радио и связь, 1985. — 304 с.
9. He X., Shen L., Shen Z. A data-adaptive knot selection scheme for fitting splines // Signal Processing Letters, IEEE. — 2001. — V. 8, N 5. — P. 137-139.